Estudio del escape de fotolectrones en detectores de silicio : (Record no. 22951)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00644nam a2200181Ia 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 231113s1992||||ag |||||||||||||| ||spa||
080 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL UNIVERSAL
Número de la Clasificación Decimal Universal 541.428.4
100 ## - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Arévalo, Fernando Ramón
245 #0 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Estudio del escape de fotolectrones en detectores de silicio :
Resto del título /
Mención de responsabilidad, etc. Arévalo, Fernando Ramón
250 ## - MENCION DE EDICION
Mención de edición 1a ed.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. Córdoba ;
Nombre del editor, distribuidor, etc. Facultad de Matemática, Astronomía y Física-Universidad Nacional de Córdoba ,
Fecha de publicación, distribución, etc. 1992
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 72 p. ;
Dimensiones :
Tipo de unidad
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Trabajo Final para obtener el Título de Licenciatura en Física.
653 ## - TÉRMINO DE INDIZACIÓN--NO CONTROLADO
Término no controlado ESPECTROSCOPÍA
653 ## - TÉRMINO DE INDIZACIÓN--NO CONTROLADO
Término no controlado FÍSICA
653 ## - TÉRMINO DE INDIZACIÓN--NO CONTROLADO
Término no controlado QUÍMICA
942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA)
Tipo de ítem Koha Tesis
Holdings
Estatus retirado Estado de pérdida Estado de daño No para préstamo Biblioteca de origen Biblioteca actual Ubicación en estantería Número de inventario Total de préstamos Signatura topográfica completa Código de barras Visto por última vez Precio de reemplazo Tipo de ítem Koha
              BEX-TES-000125   541.428.4AR683 Ej. 1 BEX-TES-000125 13/11/2023 13/11/2023 Tesis