Estudio del escape de fotolectrones en detectores de silicio : (Record no. 22952)

MARC details
000 -LEADER
campo de control de longitud fija 00644nam a2200181Ia 4500
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 231113s1992||||ag |||||||||||||| ||spa||
080 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL UNIVERSAL
Número de la Clasificación Decimal Universal 541.428.4
100 ## - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Arévalo, Fernando Ramón
245 #0 - MENCIÓN DEL TÍTULO
Título Estudio del escape de fotolectrones en detectores de silicio :
Resto del título /
Mención de responsabilidad, etc. Arévalo, Fernando Ramón
250 ## - MENCION DE EDICION
Mención de edición 1a ed.
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC.
Lugar de publicación, distribución, etc. Córdoba ;
Nombre del editor, distribuidor, etc. Facultad de Matemática, Astronomía y Física-Universidad Nacional de Córdoba ,
Fecha de publicación, distribución, etc. 1992
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 72 p. ;
Dimensiones :
Tipo de unidad
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Trabajo Final para obtener el Título de Licenciatura en Física.
653 ## - TÉRMINO DE INDIZACIÓN--NO CONTROLADO
Término no controlado ESPECTROSCOPÍA
653 ## - TÉRMINO DE INDIZACIÓN--NO CONTROLADO
Término no controlado FÍSICA
653 ## - TÉRMINO DE INDIZACIÓN--NO CONTROLADO
Término no controlado QUÍMICA
942 ## - ELEMENTOS DE ENTRADA SECUNDARIOS (KOHA)
Tipo de ítem Koha Tesis

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